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工作模式描述

RTP 模块规定了多个工作模式，主要可分为两类：

  • 手动工作模式：各采样模式完全由软件对寄存器进行控制而构造出来的，不限于 采样模式描述 中定义的八种采样模式。不同采样模式的先后顺序都是由软件进行控制，这样可以获得最大的灵活度，以面对未来应用的不确定性。

  • 自动工作模式：模块按照预先定义的八种采样模式之一以及预定的顺序进行采样。让软件驱动控制得到最大程度的简化，可以做到一键完成所需的所有采样工作，软件只需要使用获得的采样值进行坐标运算即可。根据不同应用需要，自动模式分了四种情况，详细参考寄存器描述。

自动模式采样数据滤波

自动工作模式下，采样数据滤波包括三个步骤：

  1. 排序：把单点多次采样结果进行排序，找出最大和最小的值；

  2. 超限判断，用最大值-最小值，然后进行相对值和绝对值分别比较，如果同时超过两个数值，则整组采样数据判为无效，否则就认为数据有效；

  3. 算数平均：把最大值/最小值排除之后，对中间值进行算数平均，得到的结果作为单点采样的最终结果存入 FIFO。

滤波配置有：
  • 无滤波。
  • 2/4：单点采样连续采样 4 次，获得同一个点的连续的 4 个 ADC 样本数据，然后去掉最大和最小，再对剩下的数据进行算数平均。
  • 4/6：单点采样连续采样 6 次，获得同一个点的连续的 6 个 ADC 样本数据，然后去掉最大和最小，再对剩下的数据进行算数平均。
  • 4/8：单点采样连续采样 8 次，获得同一个点的连续的 8 个 ADC 样本数据，然后去掉最大 2 个和最小 2 个，再对剩下的数据进行算数平均。
假设采样模式为 XP，滤波配置为 4/6，XYRUR=1/64，XYAUR=16，则对 X+进行连续采样，得到 6 个数值，分别为 A，B，C，D，E，F，并且 A<B<C<D<E<F。
  1. 排序：最小值 A，最大值 F。
  2. 超限判断：如果 ((F-A) > XYAUR) || ((F-A) > ((F+A)/2* XYRUR)) == 1，则保留采样所得的数据，停止自动采样。数据超限与抬起都会导致 RTP 进入 Error 状态停止自动采样（周期性或单循环采样下）无需等待本自动采样完成，需要等待正在执行的单点采样完成，需软件清除采样不完整与数据超限标志。
  3. 算术平均：DATA = (B+C+D+E)/4。
注： 超限判断与算术平均同时进行。

自动模式下的采样循环描述

自动模式单循环采样说明：

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自动模式周期循环采样说明：

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自动模式下的单点采样描述

自动模式下单点采样步骤如下：
  1. 检查按压检测信号：确保 DRV[3:0]=4’h1，并且 PDETEN 有效，检查经过去抖前的按压检测信号（PDETi）。如果按压有效，则进入步骤 2 ，否则置位 FLG（采样循环不完整标志），并进入步骤 N。
  2. 驱动 RTP 电路：根据采样模式，分别配置 DRV/VPSEL/VNSEL 驱动电路，同时 PDETEN 无效，进入步骤 3 ；
  3. 发送 ADC 采样命令：根据滤波配置，连续向 ADC 发出多个采样命令，采样优先级 PRI=1，收到对应数量的采样数据后，进入步骤 4。
  4. 采样数据滤波：按照前面描述的方式，对采样数据进行滤波，如果滤波完成则进入步骤 5，否则置位 FLG（数据超限标志），并进入步骤 N。
  5. 完成采样：设置 DRV=1，并且 PDETEN 有效，并完成采样。
  6. 步骤 N，等待软件干预：进入 Error 状态，直到（SCI_FLG || DOUR_FLG）==0，重新进行下一次采样循环。